序號

　　設備名稱

　　技術參數與配置要求（參考）

　　數量

　　1

　　多角度納米粒度與Zeta電位分析儀

　　技術參數:

　　儀器主要性能：

　　1.1 光源👨🏽‍🎓：固體或氣體激光器🥸🤜🏽，功率≥10mw👯‍♂️；

　　1.2 檢測器：高靈敏度雪崩光電二極管檢測器（APD）；

　　1.3 溫度範圍：≤0 ~ ≥70 °C；

　　1.4 粘度測量；

　　1.5熒光過濾裝置

　　2. 粒徑測量技術指標

　　2.1 測量範圍🧜🏽：0.4nm ~ 10 μm

　　2.2 測量重復性：1%

　　2.3 檢測角度👩‍🚒：不少於2個檢測角度 🏌🏿‍♀️♦️，其中一角度為背散射角

　　2.4 樣品濃度：0.1 ppm ~ 40% w/v

　　2.5 樣品池體積：≤3mL

　　2.6 微流變性質測量

　　3. Zeta電位測量

　　3.1 適用顆粒尺寸範圍: 1 nm ~ 100 μm

　　3.2 電導率範圍👩🏼‍🦱🫲🏿：0 ~≥150 mS/cm

　　4. 分子量測量

　　4.1測量範圍: 1×103 ~ 2×107 Da

　　配置要求🏌🏿‍♂️🚶🏻‍♂️‍➡️：

　　1.  納米粒度與Zeta電位分析儀主機一臺及相關分析軟件一套

　　2.  耐腐蝕耐有機溶劑插入式電極一只

　　3.  微流變附件及相關分析軟件一套

　　4.  自動滴定儀及相關分析軟件一套

　　5.  粘度測量附件及相關分析軟件一套

　　6.  熒光過濾裝置一套

　　7.  標準樣品池200只

　　8.  石英樣品池20只

　　9.  粒度/Zeta電位標樣一套

　　1

　　2

　　激光納米顆粒分析儀

　　技術參數：

　　1. 粒徑檢測範圍🌂：10 – 2000 nm

　　2. 濃度檢測範圍🐣：107 – 109 個/ml

　　3. 光源和檢測模塊：增強型激光模塊                

　　4. 激光光源🪅，488nm

　　5. 溫控範圍💯：低於室溫5度 - 55°C

　　6. 溫控準確性：  1°C 以內

　　7. 提供平均粒徑和分布寬度參數

　　8. 提供顆粒濃度信息

　　9. 提供粒徑-數量分布🤹🏻，粒徑-數量-光強三維分布曲線

　　配置要求：

　　1.檢測主機1臺，配套樣品槽1件🍵。

　　2. 配套分析軟件一套🦸‍♀️。

　　3. 配套計算機一臺☁️，液晶顯示器至少21英寸🧽，內存8G😬，酷睿i5處理器🧞，可運行配套的分析軟件。

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